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AREVA  LEA CERCACATALOGUESources ponctuelles et étendues > Sources X

Domaine d'activité des sources ponctuelles et étendues



Sources X

Les sources X servent à l'étalonnage de tous les détecteurs X (compteurs proportionnels, semi-conducteurs, etc.).

• Technique

Ces sources sont caractérisées en flux de photons Xk dans 1 sr, exprimé en s-1.
Les sources, dont le dépôt est quasi ponctuel (Ø = 4 mm max.), sont scellées à chaud entre deux feuilles de plastique mince (masse surfacique totale 12 mg.cm-2).
Elles sont montées sur un anneau plastique qui assure la rigidité et permet une manipulation aisée.

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